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Tipo de emisión de campo que examina el microscopio del electrón
En último lugar pon al día la fecha el 7 de enero de 2019
Introducción del dispositivo de tipo de emisión de campo que examina el microscopio del electrón (FE-SEM)
Resumen
Principio
Un electrón secundario ocurre de la superficie cuando irradio una muestra con la viga del electrón que ocurrió con arma del electrón. Descubriendo el electrón secundario, puede observar las irregularidades y el formulario fijado (establecido, señalado) de la superficie de la muestra.
Característica
Depende del estado de la muestra para observarlo en ambiente del vacío alto, pero la observación del microdomain de centenares de miles de tiempos es posible.
Cosa débil
Puede soltarse gas por un vacío alto y (cosa incluso la humedad) no puede poner el cuarto de la muestra en el cuarto de la observación. Además, es necesario para cubrir la superficie con metal como Au (amplificación baja) o el Pt (amplificación alta) sobre la muestra que no dirige electricidad delgadamente y para medirlo para poner una muestra bajo la viga del electrón. En cuanto a la superficie de la muestra, en el caso de una muestra débil, la superficie funde para calor para tener una fiebre por electricidad fluido y puede estar quemado.
Actuación del dispositivo y característica técnicas
Un dispositivo el número ejemplar: El producto hizo por JSM-7800F Primero JEOL
Tiempo de la introducción: Febrero, 2017
Ejemplo de la medida
Los ITO filman que hice por la figura 1 sol gelifícate el método
(amplificación 80,000 veces)
Proporción
División | Unidad | Cantidad de dinero |
---|---|---|
La observación de la superficie | En 1 muestra 1 punto de la medida | 5,700 yen |
La observación de la superficie | Suma de 1 punto de la medida (limitado a la misma muestra) | 1,600 yen |
Análisis cualitativo (espectroscopio de tipo de dispersión de energía) | En 1 muestra 1 punto de la medida | 8,400 yen |
Análisis cualitativo (espectroscopio de tipo de dispersión de energía) | En 1 muestra 1 punto de la medida | 1,600 yen |
Trazando (espectroscopio de tipo de dispersión de energía) | En 1 muestra 1 punto de la medida (limitado a la medida dentro de 3 elementos) | 25,100 yen |
Trazando (espectroscopio de tipo de dispersión de energía) | Suma de 1 elemento de la medida (limitado al punto de medida de equivalencia) | 1,700 yen |
Sobre una proporción
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